① 使用耦合和去耦合裝置，將電磁場(chǎng)的模擬影響量的射頻電磁場(chǎng)電磁流耦合或注入到電源接口或輸入接口。檢驗(yàn)被測(cè)電子臺(tái)秤的性能。
② 預(yù)處理：不需要。
③ 被測(cè)電子臺(tái)秤的條件：正常接通電源，“開(kāi)機(jī)”時(shí)間大于或等于制造廠家規(guī)定的預(yù)熱時(shí)間。若被測(cè)電子臺(tái)秤檢測(cè)到顯著增差，應(yīng)將電子稱重新置零。
④ 穩(wěn)定性：每次測(cè)試之前，被測(cè)電子稱應(yīng)穩(wěn)定在恒定環(huán)境條件下。
⑤ 測(cè)試是將被測(cè)電子臺(tái)秤EUT置于傳導(dǎo)射頻場(chǎng)干擾的環(huán)境下。將被測(cè)電子臺(tái)秤EUT置于嚴(yán)酷等級(jí)規(guī)定的強(qiáng)度和特性的傳導(dǎo)干擾中。
⑥ 測(cè)試設(shè)備見(jiàn)GB/T 17626.6（IEC 61000-4-6/16/）。
⑦ 測(cè)試設(shè)置見(jiàn)GB/T 17626.6（IEC 61000-4-6/16/）。
⑧ 試驗(yàn)載荷：施加一個(gè)約等于zui小秤量（不小于zui小秤量）的單一靜態(tài)試驗(yàn)載荷。
⑨ 測(cè)試嚴(yán)酷等級(jí)：頻率范圍：0.15MHz-80MHz，射頻幅值：10V（e、m、f）調(diào)制：80%AN\1kHz、正弦波。
⑩ 在有和沒(méi)有干擾條件下記錄下列內(nèi)容：日期和時(shí)間，溫度，試驗(yàn)載荷，示值。
11 zui大允許變化：稱量的有干擾示值與無(wú)干擾示值之間的差值，應(yīng)不超出規(guī)定的顯著增差值，或被測(cè)電子臺(tái)秤應(yīng)檢測(cè)出顯著增差并作出反應(yīng)。
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